E+H數(shù)字式壓力變送器PMP55-50E10/0

儀表可以進(jìn)行下列測量：

• 在所有過程領(lǐng)域和過程測量技術(shù)中進(jìn)行氣體、蒸汽或液體的絕壓和表壓測量

• 液體的液位、體積和質(zhì)量測量

• 高過程溫度

• 不帶膜片密封圈，最高為130 °C (266 °F)，150 °C (302 °F)最長60分鐘

• 帶膜片密封圈，最高為400 °C (752 °F)

 • 最大壓力：400 bar (6 000 psi)

 • 已獲得廣泛認(rèn)可，可在全球使用

優(yōu)勢

• 優(yōu)秀的重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性

• 高參考測量精度：高達(dá)±0.10 %

鉑金型：±0.075 %

 • 最大量程比為100:1

 • 標(biāo)準(zhǔn)化平臺，適用于差壓變送器、靜壓變送器和壓力變送器（Deltabar M 

Deltapilot M – Cerabar M）

• 實(shí)用的用戶界面，調(diào)試簡單快速

• 過程壓力監(jiān)控的最高安全等級為SIL 2，通過TüV NORD認(rèn)證，符合IEC 61508

 2.0 版和IEC 61511 標(biāo)準(zhǔn)

• 隔膜密封系統(tǒng)采用獲得的TempC膜片，有效降低了環(huán)境溫度和過程溫度變

化引起的測量誤差

• 提供符合ASME-BPE標(biāo)準(zhǔn)的儀表型號

過程壓力使膜片發(fā)生形變，填充液將壓力傳輸至電阻橋路上（半導(dǎo)體技術(shù)）。測量與壓力變化相

關(guān)的橋路輸出電壓，并進(jìn)行后續(xù)計(jì)算處理。

•可以在過程壓力不超過400 bar (6 000 psi)的條件下測量

•高長期穩(wěn)定性

•最大抗過載能力為4倍標(biāo)稱壓力

•與隔膜密封系統(tǒng)相比，熱效應(yīng)顯著降低

E+H數(shù)字式壓力變送器PMP55-50E10/0